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| 決済方法: | T/T,ウェスタン・ユニオン |
| ポテンチオスタットの上昇時間: 1ms未満,通常0.8ms | 恒常ポテンシャルメーター帯域幅 (-3デシベル): 1MHz |
| 入力偏差電流:<20pA | 潜在騒音:<10mV 根の中間平方根 |
| DPVとNPVのパルス幅: 0.001〜10秒 | SWV周波数:1〜1kHz |
| サイズと重量: 150 * 90 * 30mm,重量 220g | i-t の最小サンプル採取間隔: 1 ms |
2測定・制御ソフトウェアの主要な機能
静止状態の偏振
オープン・サーキット・ポテンシャル測定 (OCP),常動電源偏振 (i-t曲線),常動電源偏振,動的電源スキャン (TAFEL曲線),動的電源スキャン (DGP)
臨時偏振
恒常電流のステップ波,恒常電流のステップ波,恒常電流のステップ (VSTEP),恒常電流のステップ (ISTEP)
タイミング分析
クロノポテンチオメトリ (CP),クロノアンペロメトリ (CA),クロノアンペロメトリ (CC)
I-V 解析器
線形スウィープボルトメトリ (LSV),線形サイクルボルトメトリ (CV),ステップサイクルボルトメトリ (SCV),平方波ボルトメトリ (SWV),微分パルスボルトメトリ (DPV),従来のパルス電圧測定 (NPV)標準的な微分パルス電圧測定 (DNPV),微分パルス電流検出 (DPA),二重微分パルス電流検出 (DDPA),三重パルス電流検出 (TPA),インテグレートパルス電流検出器 (iPad),交流電流電圧計 (ACV),第二のハーモニック交流電流電圧計 (SHACV),フーリエ変換交流電流電圧計 (FTACV)
溶解電圧測定
恒常電位剥離電波計,線形剥離電波計,段階式剥離電波計,正方形波剥離電波計,微分パルス剥離電波計従来のパルス剥離電圧測定標準的な微分パルス剥離電圧測定,交流剥離電圧測定
ACインペデンス
電気化学阻害光谱 (EIS) - 周波数スキャン,電気化学阻害光谱 (EIS) - 時間スキャン電気化学インピーダンスのスペクトロスコピー (EIS) - 潜在スキャン (モット・ショットキー曲線)
腐食測定
循環偏振曲線 (CPP),線形偏振曲線 (LPR),電動力学再活性化方法 (EPR),電気化学騒音 (EN),電磁腐食測定 (ZRA),水素拡散試験
バッテリー試験
バッテリー充電・放電試験,恒常電流充電・放電,恒常電位充電・放電,恒常電位間隔定位技術 (PITT)常流間隔タイトレーション技術 (GITT)
拡張測定
ディスクリング電極試験,デジタルレコーダー,波形発生器,その他の周辺拡張ポート (カスタマイズ)
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| 決済方法: | T/T,ウェスタン・ユニオン |
| ポテンチオスタットの上昇時間: 1ms未満,通常0.8ms | 恒常ポテンシャルメーター帯域幅 (-3デシベル): 1MHz |
| 入力偏差電流:<20pA | 潜在騒音:<10mV 根の中間平方根 |
| DPVとNPVのパルス幅: 0.001〜10秒 | SWV周波数:1〜1kHz |
| サイズと重量: 150 * 90 * 30mm,重量 220g | i-t の最小サンプル採取間隔: 1 ms |
2測定・制御ソフトウェアの主要な機能
静止状態の偏振
オープン・サーキット・ポテンシャル測定 (OCP),常動電源偏振 (i-t曲線),常動電源偏振,動的電源スキャン (TAFEL曲線),動的電源スキャン (DGP)
臨時偏振
恒常電流のステップ波,恒常電流のステップ波,恒常電流のステップ (VSTEP),恒常電流のステップ (ISTEP)
タイミング分析
クロノポテンチオメトリ (CP),クロノアンペロメトリ (CA),クロノアンペロメトリ (CC)
I-V 解析器
線形スウィープボルトメトリ (LSV),線形サイクルボルトメトリ (CV),ステップサイクルボルトメトリ (SCV),平方波ボルトメトリ (SWV),微分パルスボルトメトリ (DPV),従来のパルス電圧測定 (NPV)標準的な微分パルス電圧測定 (DNPV),微分パルス電流検出 (DPA),二重微分パルス電流検出 (DDPA),三重パルス電流検出 (TPA),インテグレートパルス電流検出器 (iPad),交流電流電圧計 (ACV),第二のハーモニック交流電流電圧計 (SHACV),フーリエ変換交流電流電圧計 (FTACV)
溶解電圧測定
恒常電位剥離電波計,線形剥離電波計,段階式剥離電波計,正方形波剥離電波計,微分パルス剥離電波計従来のパルス剥離電圧測定標準的な微分パルス剥離電圧測定,交流剥離電圧測定
ACインペデンス
電気化学阻害光谱 (EIS) - 周波数スキャン,電気化学阻害光谱 (EIS) - 時間スキャン電気化学インピーダンスのスペクトロスコピー (EIS) - 潜在スキャン (モット・ショットキー曲線)
腐食測定
循環偏振曲線 (CPP),線形偏振曲線 (LPR),電動力学再活性化方法 (EPR),電気化学騒音 (EN),電磁腐食測定 (ZRA),水素拡散試験
バッテリー試験
バッテリー充電・放電試験,恒常電流充電・放電,恒常電位充電・放電,恒常電位間隔定位技術 (PITT)常流間隔タイトレーション技術 (GITT)
拡張測定
ディスクリング電極試験,デジタルレコーダー,波形発生器,その他の周辺拡張ポート (カスタマイズ)
